언론 보도에 따르면 미국 에너지부(DOE)는 최근 장기 가속 수명 테스트를 기반으로 한 LED 드라이브에 대한 세 번째 신뢰성 보고서를 발표했습니다. 미국 에너지부의 고체 조명(SSL) 연구원들은 최신 결과를 통해 가속 스트레스 테스트(AST) 방법이 다양한 가혹한 조건에서 좋은 성능을 보여주었다는 것을 확인했다고 믿습니다. 또한 테스트 결과와 측정된 실패 요인은 드라이버 개발자에게 신뢰성을 더욱 향상시키기 위한 관련 전략을 알려줄 수 있습니다.
잘 알려진 바와 같이 LED 드라이버는 LED 부품 자체와 마찬가지로 최적의 조명 품질을 위해 매우 중요합니다. 적절한 드라이버 설계를 통해 깜박임을 제거하고 균일한 조명을 제공할 수 있습니다. 그리고 드라이버는 LED 조명이나 조명 기구에서 오작동이 발생할 가능성이 가장 높은 구성 요소이기도 합니다. 드라이버의 중요성을 깨달은 DOE는 2017년 장기 드라이버 테스트 프로젝트를 시작했습니다. 이 프로젝트에는 천장 홈과 같은 장치를 고정하는 데 사용할 수 있는 단일 채널 및 다중 채널 드라이버가 포함됩니다.
미국 에너지부는 이전에 테스트 프로세스 및 진행 상황에 대한 두 가지 보고서를 발표했으며, 이제 6000~7500시간 동안 AST 조건에서 실행되는 제품 테스트 결과를 다루는 세 번째 테스트 데이터 보고서가 공개되고 있습니다.
실제로 업계에서는 수년 동안 정상적인 작동 환경에서 드라이브를 테스트할 시간이 많지 않습니다. 반대로, 미국 에너지부와 그 계약자 RTI International은 실내 습도와 온도가 75°C로 일관되게 유지되는 7575 환경에서 드라이브를 테스트했습니다. 이 테스트에는 드라이버 테스트의 두 단계가 포함됩니다. 채널. 단일 스테이지 설계는 비용이 더 저렴하지만 먼저 AC를 DC로 변환한 다음 전류를 조절하는 별도의 회로가 부족합니다. 이는 2단 설계의 고유한 특징입니다.

미국 에너지부 보고서에 따르면 11개의 서로 다른 드라이브에 대해 실시한 테스트에서 모든 드라이브는 7575 환경에서 1000시간 동안 실행되었습니다. 드라이브가 환경실에 있는 경우 드라이브에 연결된 LED 부하가 실외 환경 조건에 위치하므로 AST 환경은 드라이브에만 영향을 미칩니다. DOE는 AST 조건의 런타임을 정상 조건의 런타임에 연결하지 않았습니다. 일부 장치는 여전히 작동 중이지만 첫 번째 장치 배치는 1250시간 동안 실행된 후 오류가 발생했습니다. 4,800시간 동안 테스트한 결과, 장치의 64%가 실패했습니다. 그럼에도 불구하고 가혹한 테스트 환경을 고려하면 이러한 결과는 이미 매우 좋습니다.
연구원들은 대부분의 결함이 드라이버의 첫 번째 단계, 특히 역률 보정(PFC) 및 전자기 간섭(EMI) 억제 회로에서 발생한다는 사실을 발견했습니다. 드라이버의 두 단계 모두에서 MOSFET에도 결함이 있습니다. 드라이버 설계를 개선할 수 있는 PFC 및 MOSFET과 같은 영역을 나타내는 것 외에도 이 AST는 일반적으로 드라이버 성능 모니터링을 기반으로 결함을 예측할 수 있음을 나타냅니다. 예를 들어, 역률 및 서지 전류를 모니터링하면 조기에 결함을 감지할 수 있습니다. 깜박임이 증가하면 오작동이 임박했음을 나타냅니다.
오랫동안 DOE의 SSL 프로그램은 Gateway 프로젝트의 응용 시나리오 제품 테스트, Caliper 프로젝트의 상용 제품 성능 테스트를 포함하여 SSL 분야에서 중요한 테스트 및 연구를 수행해 왔습니다.